MC-2000C型涂（鍍）層測(cè)厚儀是的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代同類(lèi)儀器的水平。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-06-20
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產(chǎn)品詳情

MC-2000C型涂（鍍）層測(cè)厚儀工作原理

MC--2000C型涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線(xiàn)圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

MC-2000C型涂（鍍）層測(cè)厚儀技術(shù)

1、測(cè)量范圍： 0~5000μm

2、測(cè)量誤差：　　<3%±1μm
3、zui小示值：　　1μm
4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
(1).測(cè)量：　單探頭全量程測(cè)厚
(2).存儲(chǔ)：　可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè)
(3).讀：　　　讀出已存入測(cè)量數(shù)據(jù)
(4).校正：隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)試片校正
(5).打印：選配微型打印機(jī)
(6).背光：采用的EL自動(dòng)背光
(7).關(guān)機(jī)：zui后一次測(cè)量后8分鐘左右自動(dòng)關(guān)機(jī)
6、電源：　　　 3.6v充電電池
7、功耗：　　　 zui大功耗100mw
8、外形盡寸：　　 50 ＊95 ＊24mm3
9、重量：　　　　　 90g
10、使用環(huán)境溫度：　0℃~+40℃相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度： 0.2mm
12、基體zui小平面： 7mm
13、zui小曲率半徑：凸:1.5mm凹:6mm
14、欠電壓指示：左下角顯示＂欠＂
＊臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。